天星ED400渦流測厚儀

天星ED400渦流測厚儀的產品特點：
·ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
·儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
·儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
·儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
·ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
·量程寬:ED400型的量程達到0～500μm。
·精度高:ED400型的測量精度達到2%。
·分辨率高:ED400型的分辨率達到0.1μm。
·校正簡便:只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
·基體導電率影響小:基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量 誤差不大于1～2μm。
·可靠性提高:采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性 提高。
·穩定性提高:采用的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器 校正一次可在生產現場長期使用。
·探頭線壽命長:采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
·探頭芯壽命長:采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
·探頭可互換:外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
天星ED400渦流測厚儀的技術參數：
·測量范圍:0～500μm。
·測量精度:0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%。
·分辨率:0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）。
·使用溫度:5～45℃。
·外形尺寸:150mm×80mm×30mm。
·重量:260g。
天星ED400渦流測厚儀的標準配置:
·主機            1臺。
·探頭            1支。
·基體            1塊（6063合金）。
·校正箔片        1片（約50μm，附檢測報告）。
·使用說明書      1份。
·合格證          1份。
·保修單          1份。
·手提式儀器箱    1個。
天星ED400渦流測厚儀的可選附件:
·備用探頭。
·基體。
·校正箔片（約50μm，附檢測報告）。